コアファシリティマネジメントセンター
機器ワンストップサービス部門
（東広島）機器分析J棟

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旋光計

日本分光製　DIP370

[J206室]

試料の旋光度を測定する装置。

特徴

• 測定精度：±0.002°

利用について

• この機器は大学連携NWには登録されていません。利用希望の方は、担当者へお問い合わせください。

担当者

• N-BARD　齋藤 健一　(E-mail: saitowhiroshima-u.ac.jp)

共同利用機器

• 超高分解能核磁気共鳴装置
  • NMR ECZL600G
  • NMR ECA500
  • NMR Lambda500
• トライブリッド質量分析計
• 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
• マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計（MALDI-8020）
• CHNS分析装置（J203 依頼測定）
• 電子プローブマイクロアナライザ
• 超高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)
• 超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡装置(FE-SEM)
• エネルギー分散型X線分析装置(EDX)
• FIB-SEM (Helios G4)
• 透過型電子顕微鏡 JEM-1400
• 蒸着用イオンスパッタ装置
• カーボンコーター
• オスミウムコーター
• デジタルマイクロスコープ
• 単結晶Ｘ線構造解析システム
• 粉末Ｘ線回析装置
• 電子スピン共鳴装置
• 円二色性分散計(J-1500)
• 円偏光ルミネセンス測定装置
• 顕微ラマン分光装置
• 旋光計
• 紫外可視近赤外分光光度計
• 分光蛍光光度計
• 生物培養システム(一式)