粉末X線回折装置
リガク製・SmartLabW
[J307室]
一般的な粉末X線回折測定では、粉末結晶に単色X線を照射し、得られた回折線の情報とデータベース等の情報とを比較し、結晶相を同定します。 当センターのSmartLabでは一般的な測定ができることに加えて、測定中も試料を水平に保つ機構を有しているため、こぼれやすい試料でも安心して測定できます。
特徴
- 封入管のCu線源(Kβフィルター使用)で一般的なXRD測定が可能です。
- 解析には解析ソフト(SmartLab Studio II、JADE)とPDF2(データベース)をご利用いただけます。 これらは当装置 利用者の使用が優先となりますが、他装置のデータの解析 にもご利用いただけます。利用の際には一度ご連絡ください。
はじめての方へ
講習会の受講は必要ありませんが、初回は立会いをお願いしております。まずは河田までご連絡ください。
ご不明な点がありましたら、お気軽に河田(E-mail: kawatahiroshima-u.ac.jp、内線:2483)までご連絡ください。
利用について
- 利用可能研究設備詳細
- 依頼測定:詳しくはお知らせをご覧下さい。
担当者
- 先進理工系科学研究科 水田 勉 (E-mail: mizutahiroshima-u.ac.jp)
- 技術センター 河田 尚美 (E-mail: kawatahiroshima-u.ac.jp)