超高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)
日本電子製 JEM-2010型
[J103室]
原子配列を直視しつつ，極微小領域Ｘ線分析，極微小領域電子線回折，収束電子回折が可能。 微粒子，複合材料などの材料研究をはじめ，医学，生物分野の研究に利用されます。
詳しくはこちらもご覧ください：「電子顕微鏡のページ」
特徴
JEM-2010 電子顕微鏡
- 分解能: 0.194 nm(粒子像)
- 0.14 nm(格子像)
- 加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200kV
- 倍率: 50~1,500,000
- カメラ長: 80~2,000 mm (制限視野回折)
- 試料傾斜角: ±20°
- 最小分析領域: 10 nmφ
高分解能CCDカメラ
- 解像度 (pixel): 1376 × 1032
- ピクセルサイズ (µm2): 6.45 × 6.45
- 有効ピクセルサイズ (µm2): 約20 × 20
- 露光時間: 100 µs ~ 160s
- 解像度: 2048 × 2048
- ピクセルサイズ: 14.0 × 14.0
- 有効ピクセルサイズ: 14.0 × 14.0
- 露光時間: 100 ms ~ 100s
エネルギー分散型X線分析装置 (JED2300-T)
- 検出器タイプ: Si(Li)半導体検出器
- 有効検出面積: 50 mm2
- 分解能: 143 eV以下
- 検出可能元素: B~U
- 詳細：http://home.hiroshima-u.ac.jp/kiki/kiki_equip/TEM_EDX.shtml
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(その後、大学連携NWから「依頼測定予約」をお申し込み下さい) - 技術センター 前田 誠 (E-mail: mmaeda
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