TEM用EDX
日本電子製 JED-2300T (CCD: OLYMPUS製 MEGAVIEW G2, CANTEGA)
[J103室]
TEMは、試料に電子線を照射して透過像を撮影する顕微鏡です。 電子線を照射すると試料からは元素固有の特性Ｘ線も放出されますので、 これをSi(Li)半導体で検出し、特性X線のスペクトルを解析し、元素分析（定性・定量）を行います。 EDXの増設と同時に、CCDカメラも付設されました。 フィルム撮影と比べ、画像チェックや回折像の指数付けが迅速にでき、フィルム残量を気にせず多くの画像を保存できます。
特徴
TEM本体
EDX
- 日本電子製 JED2300T
- 検出可能元素：B～U
- 有効検出面積：50mm2以上
- 分解能：146eV以下
- 取り出し角：22.3°以上
- 取り組み立体角：0.2str以上
- 付属品：ベリリウム製二軸傾斜ホルダー
CCDカメラ
- サイドマウント：有効pixel 1392×1040(OLYMPUS, MegaviewG2）
- ボトムマウント：有効pixel 2048×2048(OLYMPUS, CantegaG2)
利用について
この機器は超高分解能透過型電子顕微鏡の付属機器です。
担当者
- 技術センター 前田 誠 (E-mail: mmaeda
hiroshima-u.ac.jp)
担当者がホームページを公開しています：「電子顕微鏡のページ」
